集成电路的侵受盐雾危害，盐雾试验箱大显神通

　　本篇文章简单叙述了盐雾在自然界中的构成以及对电子产品的影响，并比较了电子产品、设备、部件和材料的盐雾试验参数。根据盐雾试验箱的应用范围，通过对部件、材料、元器件和整机的逐步检查，对提高并评价电子产品长期耐盐雾性能的研究方法进行了简单的介绍。

　　在大气中，由含盐微小液滴所构成的弥散系统指的就是盐雾，根据相关统计，在各种飞机的现场故障中，大约50%是由环境造成的。其中，温度占40%，振动占27%，湿热占19%，沙尘占5%，盐雾占4%。可以看出，盐雾在近20个环境因素中排名第五，是一个不容忽视的破坏性因素。

 

　　近年来，科学家开始使用盐雾试验箱，研究了盐雾对集成电路、雷达天线罩等产品的影响。结果表明，由于电化学反应，集成电路会产生腐蚀性物质，破坏电路的表面和性能。同时，它与材料和密封性有一定的关系。当包装气密性好时，只有导线受到塑料包装和玻璃包装腐蚀的影响，而陶瓷包装受到腐蚀的影响很大。盐雾显著增加了天线罩对雷达波的反射。形成的闪的花瓣会引起虚拟警报，减少盖壁的透射，形成雷达盲区。

 

　　目前，盐雾试验箱可以开展的盐雾测试方法多种多样，根据不同的应用范围。一般可分为设备级、元件级和材料级，研究数据表明，每个标准盐雾的参数范围是一致的，但由于应用范围不同，测试方法也不同。有连续喷雾、盐雾与干燥交替、盐雾与湿热交替等。至此，我们了解到盐雾环境对于集成电路所造成的危害，盐雾试验箱现已成为各大行业常用的盐雾检测仪器，有需要的客户欢迎联系我司进行购买。